大腦過度活躍 可能導致老人癡呆症

牛津大學的研究員克萊爾.麥凱表示,這項研究將會有助研究老人癡呆症的預防方法,將來人們也許只需接受一次簡單測試便能知道自己年老時患上此症的風險是否比一般人大。高危人士將可以進行預防性的治療,或者詢問醫生自己該如何養腦防呆。

不過,老人癡呆症研究信託基金會首席執行官麗貝卡.伍德卻指,雖然統計數字顯示有APOE4基因的人較容易患上癡呆症,但在他們之中,仍是以沒有患上此症者為多數,因此這項研究仍未足以達致準確的風險預測。她又指,老人癡呆症的成因很複雜,有遺傳因素,也有環境因素,醫學界若能對它們有更深入的了解,便可更有效地協助人們減低患病風險。

英國一項研究發現,一種使人過度用腦的基因可能是導致老人癡呆症的原因之一。

人類的一種基因會使大腦負責記憶的部位即使在休息時也處於活躍狀態,導致大腦較早勞損衰退,增加日後患上老人癡呆症的風險。

研究小組由牛津大學和倫敦帝國學院的科學家組成,並在美國《國家科學院學報》上發表報告。他們對三十六名二十至三十五歲、智力相若的對象進行研究。腦部測試顯示,有一種名為APOE4的基因的研究對象無論在接受記憶測試還要腦部休息時,腦部海馬體都比其他研究對象活躍。研究員推斷,這種人日後患上老人癡呆症的風險較大。

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